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Wang, Dong; Yang, Fangfang; Zhao, Yang; Tsui, Kwok-Leung Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.1-8
Characterization of MIS structures and thin film transistors using RF-sputtered HfO2/HIZO layers
Hernandez, I.; Pons-Flores, C.A.; Garduño, I.; Tinoco, J.; Mejia, I.; Estrada, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.9-13
Non-homogenous gamma process: Application to SiC MOSFET threshold voltage instability
Santini, Thomas; Morand, Sebastien; Fouladirad, Mitra; Miller, Florent; Grall, Antoine; Allard, Bruno Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.14-19
Zeng, Yan; Li, XiaoJin; Wang, Yanling; Sun, Yabin; Shi, YanLing; Guo, Ao; Hu, ShaoJian; Chen, Shoumian; Zhao, Yuhang Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.20-26
Hua, L.; Hou, H.N. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.27-36
Pin-pin ESD protection for electro-explosive device under severe human body ESD
Lv, Zhixing; Yan, Nan; Bao, Bingliang Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.37-42
Plastic analysis for through silicon via with actual etching defect of triangular-teeth and scallops
Sun, Yunna; Kang, Dongwoo; Zhang, Yazhou; Luo, Jiangbo; Liu, Yanmei; Wang, Yan; Ding, Guifu Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.43-52
Effects of Ag addition and Ag3Sn formation on the mechanical reliability of Ni/Sn solder joints
Chu, Kunmo; Lee, Changseung; Park, Sung-Hoon; Sohn, Yoonchul Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.53-58
Giacci, Federico; Dellea, Stefano; Langfelder, Giacomo Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.59-68
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