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Modelling the impact of refinishing processes on COTS components for use in aerospace applications
Stoyanov, S.; Bailey, C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1271-1279
Qin, Taichun; Zeng, Shengkui; Guo, Jianbin Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1280-1284
A novel analytical method for defect tolerance assessment
Slimani, M.; Ben Dhia, A.; Naviner, L. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1285-1289
Comprehensive reliability and aging analysis on SRAMs within microprocessor systems
Liu, Taizhi; Chen, Chang-Chih; Kim, Woongrae; Milor, Linda Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1290-1296
Raghavan, Nagarajan; Frey, Daniel D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1297-1301
Rolloff, Otto Aureliano; Bastos, Rodrigo Possamai; Fesquet, Laurent Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1302-1306
Gerrer, L.; Georgiev, V.; Amoroso, S.M.; Towie, E.; Asenov, A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1307-1312
AVERT: An elaborate model for simulating variable retention time in DRAMs
Kim, Dae-Hyun; Cha, Soonyoung; Milor, Linda S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 p.1313-1319
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