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Choi, S.S. ; Jha, V.K. ; Suwal, O.K. ; Park, M.J. ; Park, N.K. ; Kim, D.S.
2010년
eng
1605-7422
2410-9045
학술저널
PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING
7606 1I [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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InP overgrowth on SiO~2 for active photonic devices on silicon [7606-01]
Preliminary radiation hardness tests of single photon Si detectors [7606-05]