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      Properties of MTiO3 (M = Sr, Ba) and PbM'O3(M' = Ti, Zr) Superlattice Thin Films Fabricated by Laser Ablation

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      BaTiO3/SrTiO3 and PbTiO3/PbZrO3 superlattice thin films were fabricated on Pt/Ti/SiO2/Si substrate by the pulsed laser deposition process. The morphologies and physical properties of deposited films were characterized by using X-ray diffractometer, HR...

      BaTiO3/SrTiO3 and PbTiO3/PbZrO3 superlattice thin films were fabricated on Pt/Ti/SiO2/Si substrate by the pulsed
      laser deposition process. The morphologies and physical properties of deposited films were characterized by using
      X-ray diffractometer, HR-SEM, and Impedance Analyzer. XRD data and SEM images of the films indicate that each
      layer was well deposited alternatively in the superlattice structure. The dielectric constant of BaTiO3/SrTiO3 superlattice
      thin film was higher than that of individual BaTiO3 or SrTiO3 film. Same result was obtained in the
      PbTiO3/PbZrO3 system. The dielectric constant of a superlattice film was getting higher as the number of layer is
      increased.

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      참고문헌 (Reference)

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.58 0.11 0.38
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.28 0.23 0.213 0.04
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