국립중앙도서관 "우편 복사 서비스"로 연결 됩니다.
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
- 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
- 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
RISS 인기검색어
https://www.riss.kr/link?id=O53827405
- 저자
- 발행기관
- 학술지명
- 권호사항
-
발행연도
2010년
-
작성언어
eng
-
주제어
DATE ; Design ; Automation ; Test ; IEEE
-
Print ISSN
1530-1591
-
Online ISSN
1558-1101
-
자료형태
학술저널
-
원정보자원
DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY-
-
수록면
903-908 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
-
국제 표준도서번호
9781424470549 (pbk.)
-
회의자료명
Design, automation and test in Europe
-
회의명
Conference
-
회의장소
Dresden, Germany
-
회의날짜
2010; Mar
-
구독기관
- 성균관대학교 중앙학술정보관
- 부산대학교 중앙도서관
- 전남대학교 중앙도서관
- 제주대학교 중앙도서관
- 중앙대학교 서울캠퍼스 중앙도서관
- 인천대학교 학산도서관
- 숙명여자대학교 중앙도서관
- 서강대학교 로욜라중앙도서관
- 계명대학교 동산도서관
- 충남대학교 중앙도서관
- 한양대학교 백남학술정보관
- 이화여자대학교 중앙도서관
- 고려대학교 도서관
- ⓒ COPYRIGHT THE BRITISH LIBRARY BOARD: ALL RIGHT RESERVED
-
0
상세조회 -
0
다운로드
동일학술지(권/호) 다른 논문
-
- Piscataway, N.J.; IEEE
- Mehdipour, F.; Honda, H.; Kataoka, H.; Inoue, K.; Kataeva, I.; Murakami, K.; Akaike, H.; Fujimaki, A.
- 2010
-
BISD: Scan-Based Built-In Self-Diagnosis
- Piscataway, N.J.; IEEE
- Elm, M.; Wunderlich, H.J.
- 2010
-
On Reset Based Functional Broadside Tests
- Piscataway, N.J.; IEEE
- Pomeranz, I.; Reddy, S.M.
- 2010
-
- Piscataway, N.J.; IEEE
- Bonfietti, A.; Benini, L.; Lombardi, M.; Milano, M.
- 2010
이 자료와 함께 이용한 RISS 자료
나만을 위한 추천자료
