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      고 출력 백색 변환용 LED(3W용)의 고장메커니즘 비교

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      https://www.riss.kr/link?id=A99654191

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      This paper presents a comparison of the failure mechanism for high power converted white LEDs(3W) with the commercially available YAG:Ce and silicate phosphor. We carry out the normal aging life test for 10,000 hours, the high temperature aging test f...

      This paper presents a comparison of the failure mechanism for high power converted white LEDs(3W) with the commercially available YAG:Ce and silicate phosphor. We carry out the normal aging life test for 10,000 hours, the high temperature aging test for 8,000 hours, the high temperature and humidity aging test for 8,000 hours and the current aging testing for 5,000 hours. The optical and electrical parameters of LEDs were monitored, such as lumen, correlated color temperature (CCT), chromaticity coordinates(x, y), thermal resistance, I -V curve and spectrum intensity. The stress induced a luminous flux decay on LED in all experiments and causes a failure. So we try to find out what"s a main failure mechanism for a high power LED.

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      목차 (Table of Contents)

      • Abstract
      • 1. 서론
      • 2. 실험 방법
      • 3. 결론
      • 참고문헌
      • Abstract
      • 1. 서론
      • 2. 실험 방법
      • 3. 결론
      • 참고문헌
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      참고문헌 (Reference)

      1 김창해, "백색 LED용 형광 소재의 연구 개발 동향" 22-25, 2008

      2 천성일, "고출력 형광체변환 백색 LED 패키지의 가속시험" 한국신뢰성학회 10 (10): 137-148, 2010

      3 Jeong, J. S., "Reliability Improvement of InGaN LED Backlight Module by Accelerated Life Test (ALT) and Screen Policy of Potential Leakage LED" 48 : 1216-1220, 2008

      4 Liu, Z., "Optical Analysis of Phosphor's Location for High-Power Light-Emitting Diodes" 9 (9): 65-73, 2009

      5 Alliance for Solid-State Illumination System and Technologies of Lighting Research Center, "LED Life for General Lighting" Lighting Research Center 2006

      6 Dupuis, R. D., "History, Development, and Applications of High Brightness Visible Light-Emitting Diodes" 26 (26): 1154-1171, 2008

      7 Dupuis, R. D., "Histoiy, Development, and Applications of High-Brightness Visible Light-Emitting Diodes" 26 (26): 1154-1171, 2008

      8 Meneghini, M., "High Brightness GaN LEDs Degradation during DC and Pulsed Stress" 46 : 1720-1724, 2006

      9 Hsu, Y. C., "Failure Mechanism Associated With Lens Shape of High Power LED Modules in Aging Test" 55 (55): 689-694, 2008

      10 Calleja, A.J., "Evaluation of Power LEDs Drivers with Supercapacitors and Digital Control" 1129-1134, 2007

      1 김창해, "백색 LED용 형광 소재의 연구 개발 동향" 22-25, 2008

      2 천성일, "고출력 형광체변환 백색 LED 패키지의 가속시험" 한국신뢰성학회 10 (10): 137-148, 2010

      3 Jeong, J. S., "Reliability Improvement of InGaN LED Backlight Module by Accelerated Life Test (ALT) and Screen Policy of Potential Leakage LED" 48 : 1216-1220, 2008

      4 Liu, Z., "Optical Analysis of Phosphor's Location for High-Power Light-Emitting Diodes" 9 (9): 65-73, 2009

      5 Alliance for Solid-State Illumination System and Technologies of Lighting Research Center, "LED Life for General Lighting" Lighting Research Center 2006

      6 Dupuis, R. D., "History, Development, and Applications of High Brightness Visible Light-Emitting Diodes" 26 (26): 1154-1171, 2008

      7 Dupuis, R. D., "Histoiy, Development, and Applications of High-Brightness Visible Light-Emitting Diodes" 26 (26): 1154-1171, 2008

      8 Meneghini, M., "High Brightness GaN LEDs Degradation during DC and Pulsed Stress" 46 : 1720-1724, 2006

      9 Hsu, Y. C., "Failure Mechanism Associated With Lens Shape of High Power LED Modules in Aging Test" 55 (55): 689-694, 2008

      10 Calleja, A.J., "Evaluation of Power LEDs Drivers with Supercapacitors and Digital Control" 1129-1134, 2007

      11 Luo, X., "Effects of Moist Environments on LED Module Reliability" 10 (10): 2010

      12 Hardy, K. R., "Advances in High Brightness Light Emitting Diodes in Underwater Application" 1-5, 2008

      13 Meneghini, M., "A Review on the Physical Mechanisms That Limit the Reliability of GaN-Based LEDs" 57 (57): 108-118, 2010

      14 Hui, S. Y. R., "A Novel Passive Off-line Light-Emitting Diode(LED) Driver with Life Time" 594-600, 2010

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      2016 0.13 0.13 0.15
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.14 0.12 0.32 0.07
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