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Periasamy, M.; Kishorebabu, N.; Natarajan Jayakumar, K. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.CO2
Frazer, B. H.; Girasole, M.; Wiese, L. M.; Franz, T.; Stasio, G. D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.87-94
Study of the field around magnetic force microscopy probes using electron holography
Matteucci, G.; Frost, B. G.; Medina, F. F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.95-102
Imaging and thickness measurement of amorphous intergranular films using TEM
MacLaren, I. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.103-113
A new method for the determination of the wave aberration function for high-resolution TEM.
Meyer, R. R.; Kirkland, A. I.; Saxton, W. O. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.115-123
Role of surface amorphous film in high-resolution high-angle annular dark field STEM imaging
Yamazaki, T.; Watanabe, K.; Nakanishi, N.; Hashimoto, I. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.125-135
Recording of single-particle hysteresis loops with differential phase contrast microscopy
Uhlig, T.; Zweck, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.137-142
Near-field optical microscope working on TEM wave
Lapchuk, A. S.; Kryuchyn, A. A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.143-157
Time-correlations as a contrast mechanism in scanning-tunneling-microscopy-induced photon emission
Silly, F.; Charra, F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.159-164
A further discussion on the peculiarity of maximum entropy image deconvolution in HREM
Wang, H. B.; Wang, Y. M.; Li, F. H. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.165-177
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