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2010년
eng
학술저널
NANOTECH
75-78 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
9781439834015 (pbk. : v. 1)
NSTI Nanotechnology Conference and Expo
Anaheim, Calif
2010; Jun
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Advanced nanoscale elastic property measurement by contact-resonance atomic force microscopy
Nanoscale Chemical Spectroscopy with the Atomic Force Microscope