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1994년
eng
학술저널
PROCEEDINGS OF THE ANNUAL MEETING- AMERICAN SOCIETY FOR PRECISION ENGINEERING
275-280 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
9th Annual meeting
Cincinnati; OH
1994; Oct
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Force Calibrations in the Nanonewton Regime
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A Metrological Scanning Force Microscope