http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O43988188
2005년
eng
1071-9032
2158-1029
학술저널
PROCEEDINGS OF THE IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES
3.2 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0780388550 (pbk.)
Microelectronic test structures
International Conference
Leuven, Belgium
2005; Apr
0
상세조회0
다운로드
Extraction of Critical Dimension Reference Feature CDs from New Test Structure Using HRTEM Imaging