http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O40717896
1997년
eng
IDDQ testing ; IDDQ ; test technology ; IEEE
학술저널
IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON IDDQ TESTING
24-28 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0818681233; 081868125X
IDDQ testing
International workshop; 3rd
Washington; DC
1997; Nov
0
상세조회0
다운로드
Iddq Test Pattern Generation for Scan Chain Latches and Flip-Flops
Random Testing with Partial Circuit Duplication and Monitoring I~D~D~Q
Sequential Circuit Test Generation for IDDQ Testing of Bridging Faults