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2009년
eng
1340-6000
1349-9432
SCIE;SCOPUS
학술저널
OPTICAL REVIEW
627-635 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Reflectance measurement of spherical samples
Impact of an indium oxide/indium-tin oxide mixed structure for GaN-based light-emitting diodes