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2019년
eng
2166-2746
2166-2754
SCIE
학술저널
Journal of Vacuum Science and Technology B
31 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Polarization, thin-film optics, ellipsometry, and polarimetry: Retrospective
Effect of thermal annealing for W/β-Ga2O3 Schottky diodes up to 600 °C