http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O39368442
1999년
eng
1541-7026
학술저널
IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS
239-242 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0780352211; 0780352203; 078035222X
International reliability physics
Symposium; 37th
San Diego; CA
1999; Mar
0
상세조회0
다운로드
A New Physical Model for NVM Data-Retention Time-To-Failure
Using Erase Self-Detrapped Effect to Eliminate the Flash Cell Program/Erase Cycling V,h Window Close