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2003년
eng
0739-5159
2164-9340
학술저널
ELECTRICAL OVERSTRESS ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM PROCEEDINGS
80-87 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
1585370576
Electrical overstress, electrostatic discharge
Symposium; 25th
Las Vegas, NV
2003 Sep
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2A.5 Current Filament Movement and Silicon Melting in an ESD-Robust DENMOS Transistor
2A.6 ESD Phenomena in Interconnect Structures
2A.7 Impact of Layer Thickness Variations of SOI-Wafer on ESD-Robustness
2A.8 High Abstraction Level Permutational ESD Concept Analysis