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2012년
eng
1862-6254
1862-6270
SCOPUS;SCIE
학술저널
PHYSICA STATUS SOLIDI (RRL) RAPID RESEARCH LETTERS
253-255 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Thermal instability of HfO2 on InP structure with ultrathin Al2O3 interface passivation layer
Temperature dependence of the Raman spectra of Bi2Te3 and Bi0.5Sb1.5Te3 thermoelectric films
Contents: Phys. Status Solidi RRL 6/2012