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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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      Analysis on the phase transition behavior of Cu base bulk metallic glass by electrical resistivity measurement

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      https://www.riss.kr/link?id=A107530444

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      <P><B>Abstract</B></P><P>The crystallization behavior of Cu<SUB>43</SUB>Zr<SUB>43</SUB>Al<SUB>7</SUB>Ag<SUB>7</SUB> (numbers indicate at.%) bulk metallic glass was investiga...

      <P><B>Abstract</B></P><P>The crystallization behavior of Cu<SUB>43</SUB>Zr<SUB>43</SUB>Al<SUB>7</SUB>Ag<SUB>7</SUB> (numbers indicate at.%) bulk metallic glass was investigated using the isothermal electrical resistivity measurements at 450°C in the supercooled liquid region. The crystallization process is a single step phase transformation. To analyze the electrical resistivity reduction, microstructure evolutions were analyzed using differential scanning calorimetry, X-ray diffraction, transmission electron microscopy and small-angle X-ray scattering. The Avrami parameter of the electrical resistivity reduction step was 1.73, indicating that the crystallization process is a diffusion-controlled growth of intermetallic compounds with decreasing nucleation rate.</P>

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