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Comprehensive ESD protection approach in advanced CMOS SOI technologies
Khazhinsky, M. G.; Stockinger, M.; Miller, J. W.; Weldon, J. C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.720-729
Voldman, S. H.; Nicholas Perez, C.; Watson, A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.730-743
Test methodology to evaluate the safety of materials using spark incendivity
Buhler, C.; Calle, C.; Clements, S.; Ritz, M.; Starnes, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.744-751
Charge sensitivity analysis of multiple discharges in a three conductor system with small gaps
Greason, W. D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.752-759
A study of relation between a power supply ESD and parasitic capacitance
Suzuki, T.; Iwahori, J.; Morita, T.; Takaoka, H.; Nomura, T.; Hashimoto, K.; Ichino, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.760-767
A miniature charged plate for testing charge accumulation in hard disk drives
Noras, M. A.; Wang, B.; Nguyen, V. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.768-772
Triboelectrification of materials used in tape heads
Iben, I. E.; Eaton, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.773-788
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