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Irisawa, T. ; Okada, N. ; Mizubayashi, W. ; Mori, T. ; Chang, W.-H ; Koga, K. ; Ando, A. ; Endo, K. ; Sasaki, S. ; Endo, T. ; Miyata, Y.
2018년
eng
2168-6734
SCOPUS;SCIE
학술저널
IEEE journal of the Electron Devices Society
1159-1163 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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