초고속 LINESCAN 방식의 자동 결함 검출 시스템에 관한 연구 = A Study on the automatic defect testing system by using the very high speed linescan method

국문 초록 (Abstract)

본 논문에서는 Linescan Camera를 이용하여 정밀 산업분야에서 제품의 외형검사나, 인쇄물의 결함을 검사하는 자동결함 검사기술에 대해 제안하였다.
고 해상도용 초고속 영상 처리 전용 ASIC을 채택하여 초고속 고분해능 검사를 구현하였다.
영상처리 알고리즘으로는 줄 길이 부호와(Run-length coding), 다단계 이치화(Multi-level thresholding), 고속적응 줄 매칭(fast-adaptive line matching)이 적용되었다.

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

This paper proposed the automatic defect testing technology which used of Linescan Camera in the defect test of printed things and external shapes in the precision industry. According to adapting the very high speed image processor called ASIC for high resolution, this system realized the very high speed resolution testing. As the image processing algorithm, Run-length coding, Multi-level threshold and fast-adaptive line matching were applied.

목차 (Table of Contents)

• I. 서론
• II. 본론
• 2.1 하드웨어
• 2.1.1 Linescan 카메라와 렌즈
• 2.1.2 Linescan 보드(Board)
• 2.1.3 조명장치
• 2.1.4 구동 장치
• 2.2 소프트웨어
• 1. 줄 길이 부호화
• 2.다단계 이치화
• 3. 검사 알고리즘
• 2.3 적용 결과
• 2.3.1 시스템 구성
• 2.3.2 검사 결과
• 3. 결 론