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2006년
eng
학술저널
IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON ELECTRONIC DESIGN TEST AND APPLICATIONS
263-268 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0769525008 (pbk)
International workshop on electronic design, test and applications
3rd
Kuala Lumpur
2006; Jan
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