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He, J. ; Chen, Y. Q. ; He, Z. Y. ; En, Y. F. ; Liu, C. ; Huang, Y. ; Li, Z. ; Tang, M. H.
2019년
eng
2168-6734
SCOPUS;SCIE
학술저널
IEEE journal of the Electron Devices Society
76-81 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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