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The Scraping Test and Adhesion Measurements of Diamond and Nickel Electroless Coatings
Xie, Z. ELSEVIER SCIENCE INC. 2000 p.347-352
High-Resolution and Low-Voltage FE-SEM Imaging and Microanalysis in Materials Characterization
Liu, J. ELSEVIER SCIENCE INC. 2000 p.353-363
High-Resolution and Low-Voltage FE-SEM Imaging and Microanalysis in Materials Characterization
Liu, J. Elsevier 2000 p.353-364
Effect of Small gamma Precipitates on the Two-way Shape Memory Effect in a Cu-Zn-Al Alloy
Zhang, X. M.; Liu, M.; Fernandez, J.; Guilemany, J. M. Elsevier 2000 p.365-370
Effect of Small g Precipitates on the Two-way Shape Memory Effect in a Cu-Zn-Al Alloy
Zhang, X. M. ELSEVIER SCIENCE INC. 2000 p.365-370
Digital Electron Microscopy on Advanced Materials
Shindo, D. ELSEVIER SCIENCE INC. 2000 p.375-384
A Study on Crystal Defects in Epitaxial GaN Film by High-Order Weak-Beam Electron Microscopy
Wang, S. Q. ELSEVIER SCIENCE INC. 2000 p.385-389
A Study on Crystal Defects in Epitaxial GaN Film by High-Order Weak-Beam Electron Microscopy
Wang, S. Q.; Liu, C. P.; Ye, H. Q. Elsevier 2000 p.385-390
Microstructures in Advanced Materials Characterized by HREM and Nanoscale Analysis
Li, D. X. ELSEVIER SCIENCE INC. 2000 p.391-402
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