국립중앙도서관 "우편 복사 서비스"로 연결 됩니다.
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
- 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
- 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
RISS 인기검색어
https://www.riss.kr/link?id=O40681090
- 저자
- 발행기관
- 학술지명
- 권호사항
-
발행연도
1999년
-
작성언어
eng
- 주제어
-
Print ISSN
1071-9032
-
Online ISSN
2158-1029
-
자료형태
학술저널
-
원정보자원
PROCEEDINGS OF THE IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTUES
-
수록면
40-44 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
-
국제 표준도서번호
0780352718; 078035270X; 0780352726
-
회의자료명
Microelectronic test structures: ICMTS 1999
-
회의명
International conference
-
회의장소
Gothenburg; Sweden
-
회의날짜
1999; Mar
-
구독기관
- 성균관대학교 중앙학술정보관
- 부산대학교 중앙도서관
- 전남대학교 중앙도서관
- 제주대학교 중앙도서관
- 중앙대학교 서울캠퍼스 중앙도서관
- 인천대학교 학산도서관
- 숙명여자대학교 중앙도서관
- 서강대학교 로욜라중앙도서관
- 계명대학교 동산도서관
- 충남대학교 중앙도서관
- 한양대학교 백남학술정보관
- 이화여자대학교 중앙도서관
- 고려대학교 도서관
- ⓒ COPYRIGHT THE BRITISH LIBRARY BOARD: ALL RIGHT RESERVED
-
0
상세조회 -
0
다운로드
동일학술지(권/호) 다른 논문
-
Identification of Plasma Induced Damage Conditions in VLSI Designs
- IEEE
- Simon, P.; Maly, W.
- 1999
-
Analysis of Current Flow in Mono-Crystalline Electrical Linewidth Structures
- IEEE
- Smith, S.; Lindsay, I. A. B.; Walton, A. J.; Cresswelt, M. W.
- 1999
-
The fabrication of electrical linewidth structures capable of TEM measurement using standard
- IEEE
- Munro, G. G.; Gundlach, A. M.; Stevenson, J. T. M.; Travis, D. W.
- 1999
-
An Investigation of On-Chip Spiral Inductors on a 0.6� BiCMOS Technology for RF Applications
- IEEE
- Power, J. A.; Kelly, S. C.; Griffith, E. C.; O'Neill, M.
- 1999
이 자료와 함께 이용한 RISS 자료
나만을 위한 추천자료
