1 J. Lu, 335 : 1205-, 2012
2 C. F. Herrmann, 5715 : 159-, 2005
3 J. Lu, 46 : 1806-, 2013
4 B. J. O’Neill, 5 : 1804-, 2015
5 D. C. Lim, 5 : 9803-, 2012
6 C. Marichy, 24 : 1017-, 2012
7 C. Detavernier, 40 : 5242-, 2011
8 J. W. Elam, 15 : 3507-, 2003
9 J. W. Elam, 91 : 243105-, 2007
10 D. Soulivong, 130 : 5044-, 2008
1 J. Lu, 335 : 1205-, 2012
2 C. F. Herrmann, 5715 : 159-, 2005
3 J. Lu, 46 : 1806-, 2013
4 B. J. O’Neill, 5 : 1804-, 2015
5 D. C. Lim, 5 : 9803-, 2012
6 C. Marichy, 24 : 1017-, 2012
7 C. Detavernier, 40 : 5242-, 2011
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11 M. C. Alvarez-Galvan, 171 : 15-, 2011
12 X. Guo, 344 : 616-, 2014
13 A. Indarto, 89 : 214-, 2008
14 M. M lotek, 366 : 232-, 2009
15 A. G´orska, 90 : 1946-, 2011
16 P. Kasinathan, 34 : 1317-, 2014
17 T. Nozaki, 211 : 29-, 2013
18 S. Jo, 20 : 083509-, 2013
19 S. Jo, 34 : 175-, 2014
20 S. L. Wegener, 45 : 206-, 2012
21 J. B. L. Martins, 398-399 : 457-, 1997
22 B. Jeong, 307 : 468-, 2014
23 S. K. Kim, 478 : 103-, 2005
24 H. O. Seo, 183 : 381-, 2012
25 W. Cai, 14 : 972-, 2012
26 L. Kovarik, 117 : 179-, 2013
27 J. F. Moulder, "Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy" Perkin-Elmer Corporation, Physical Electronics Division 1995
28 민요셉, "Growth and Characterization of Conducting ZnO Thin Films by Atomic Layer Deposition" 대한화학회 31 (31): 2503-2508, 2010