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Zampardi, P. J.; Chang, C. E.; Fitzsimmons, S.; Pierson, R. L.; McDermott, B. T.; Chen, P. F.; Asbeck, P. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.540-543
Effect of Dead Space on Avalanche Speed
Ng, J. S.; Tan, C. H.; Ng, B. K.; Hambleton, P. J.; David, J. P. R.; Rees, G. J.; You, A. H.; Ong, D. S. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.544-549
Study of the Color Detection of a-Si:H by Transient Response in the Visible Range
Gradisnik, V.; Pavlovic, M.; Pivac, B.; Zulim, I. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.550-556
Heikenfeld, J.; Steckl, A. J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.557-563
Characterization of the Novel Polysilicon TFT With a Subgate Coupling Structure
Chang, K. M.; Chung, Y. H.; Deng, C. G.; Chung, Y. F.; Lin, J. H. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.564-567
Inverse Modeling of Sub-100 nm MOSFETs Using I-V and C-V
Djomehri, I. J.; Antoniadis, D. A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.568-575
Floating-Island TFT Leakage Caused by Process Step Reduction
Tsujimura, T.; Tokuhiro, O.; Morooka, M.; Miyamoto, T.; Miwa, K.; Yoshimura, Y.; Andry, P.; Libsch, F. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.576-583
Kumar, M.; Tan, Y.; Sin, J. K. O. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.584-589
Technology and Reliability Constrained Future Copper Interconnects-Part I: Resistance Modeling
Kapur, P.; McVittie, J. P.; Saraswat, K. C. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.590-597
Technology and Reliability Constrained Future Copper Interconnects-Part II: Performance Implications
Kapur, P.; Chandra, G.; McVittie, J. P.; Saraswat, K. C. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.598-604
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