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3D backside integration of FinFETs: Is there an impact on LF noise?
Simoen, Eddy Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Fernandez, Julian G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Amorphous GaOx based charge trap memory device for neuromorphic applications
Van Dijck, C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Analysis of trap distribution and NBTI degradation in Al2O3/SiO2 dielectric stack
Yan, Yiyi Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Analytical modeling of negative capacitance transistor based ultra low power Schmitt trigger
Keerthi, Guntupalli Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Assessment of a universal logic gate and a full adder circuit based on CMOS-memristor technology
Guitarra, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Bipolar nonlinear photo-controlled thyristor with variable-resistance effect
Wang, Yang Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Compact I-V model for back-gated and double-gated TMD FETs
Mounir, Ahmed Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Compact modeling of Schottky barrier field-effect transistors at deep cryogenic temperatures
Roemer, Christian Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
Comparison of Heat Sinks in Back-End of Line to reduce Self-Heating in 22FDX® MOSFETs
Halder, Arka Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2023
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