http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O35331105
2003년
eng
0890-1740
학술저널
INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS
45-55 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0
상세조회0
다운로드
Scanning Magnetoresistive Microscopy for Die-Level Sub-Micron Current Density Mapping
High Resolution Current Imaging by Direct Magnetic Field Sensing
Fault Isolation of High Resistance Defects Using Comparative Magnetic Field Imaging
High Resolution Backside Thermography Using a Numerical Aperture Increasing Lens