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https://www.riss.kr/link?id=O39190788
1993년
eng
1093-0167
2375-1053
학술저널
IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM
316 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0818638303; 0818638311
11th VLSI test symposium: design, test, and application: systems on silicon
Atlantic City; NJ
1993; Apr
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