1 J. Homola, 54 : 3-, 1999
2 C. K. Hwangbo, 2 : 59-, 1991
3 L. H. Duobis, 43 : 437-, 1992
4 P. Westphal, 84 : 278-, 2002
5 I. H. El-Sayed, 5 : 829-, 2005
6 E. Kretschrnann, 241 : 313-, 1971
7 A. Otto, 216 : 398-, 1968
8 S. G. Nelson, 35 : 187-, 1996
9 E. Y. Katz, 291 : 257-, 1990
10 A. J. Lomant, 104 : 243-, 1976
1 J. Homola, 54 : 3-, 1999
2 C. K. Hwangbo, 2 : 59-, 1991
3 L. H. Duobis, 43 : 437-, 1992
4 P. Westphal, 84 : 278-, 2002
5 I. H. El-Sayed, 5 : 829-, 2005
6 E. Kretschrnann, 241 : 313-, 1971
7 A. Otto, 216 : 398-, 1968
8 S. G. Nelson, 35 : 187-, 1996
9 E. Y. Katz, 291 : 257-, 1990
10 A. J. Lomant, 104 : 243-, 1976
11 A. J. Braundmeier, Jr, 35 : 517-, 1974
12 S. Kramer, 103 : 4367-, 2003
13 P. A. Bunn, Jr., 7 : 3239-, 2002
14 J. Chen, 17 : 2255-, 2005
15 J. S. Yuk, 35 : 469-, 2006
16 S.-Z. Feng, "Spectroscopic Ellipsometric Study of Size-Controlled Silicon Nano-Crystals in SiO2 Composite Thin Film" 한국물리학회 51 (51): 1593-1597, 2007
17 S. Y. Lee, "Spectroscopic Ellipsometric Analysis of a Patterned Cr Film on Quartz" 한국물리학회 51 (51): 189-192, 2007