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1999년
eng
1046-672X
학술저널
PROCEEDINGS OF THE SEM ANNUAL CONFERENCE ON THEORETICAL EXPERIMENTAL AND COMPUTATIONAL MECHANICS
541-543 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0912053666
Theoretical, experimental and computational mechanics
Annual conference
Cincinnati, OH
1999; Jun
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A Reliability Analysis of Non Parametric Tests for Drift Evaluation, #73
Sample Preparation of Electronic Components for Use in Moire Interferometry, #111