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      파우치형 이차전지 X-Ray 검사 시 Tray의 유격으로 Image의 기울어짐이 있을 때 발생하는 검사 오류 개선 방안

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      https://www.riss.kr/link?id=A108684777

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      국문 초록 (Abstract)

      이차전지 생산 공정에서 제품의 양불판정을 하는데 주로 X-Ray를 활용한 검사장비를 사용한다. 검사 시 제품을 담는 용기(Tray)에서 미세한 유격이 발생하는데, 이 유격으로 인하여 촬영할 때 제품의 기울어짐이 발생하게 되고, 기울어짐이 발생하게 되면 양불판정을 하는 알고리즘 중 이물(Scrap)검사에 오류가 발생하여 과 검출률이 높아지게 된다. 이에 본 논문은 이차전지를 검사하는 X-Ray 촬영 Image 전처리를 할 때, 발생하는 Stripe Effect를 줄이기 위해서 평탄화(EqulizeHist)를 할 때 Image의 Y값을 여러개로 나누어서 Equlizing을 하여 이물검출 성능을 높이며, 제품의 기울어짐에서 발생하는 기울어짐을 보정하는 알고리즘을 활용하여 검출 오류 또한 개선하는 기능을 수행할 수 있다.
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      이차전지 생산 공정에서 제품의 양불판정을 하는데 주로 X-Ray를 활용한 검사장비를 사용한다. 검사 시 제품을 담는 용기(Tray)에서 미세한 유격이 발생하는데, 이 유격으로 인하여 촬영할 때 ...

      이차전지 생산 공정에서 제품의 양불판정을 하는데 주로 X-Ray를 활용한 검사장비를 사용한다. 검사 시 제품을 담는 용기(Tray)에서 미세한 유격이 발생하는데, 이 유격으로 인하여 촬영할 때 제품의 기울어짐이 발생하게 되고, 기울어짐이 발생하게 되면 양불판정을 하는 알고리즘 중 이물(Scrap)검사에 오류가 발생하여 과 검출률이 높아지게 된다. 이에 본 논문은 이차전지를 검사하는 X-Ray 촬영 Image 전처리를 할 때, 발생하는 Stripe Effect를 줄이기 위해서 평탄화(EqulizeHist)를 할 때 Image의 Y값을 여러개로 나누어서 Equlizing을 하여 이물검출 성능을 높이며, 제품의 기울어짐에서 발생하는 기울어짐을 보정하는 알고리즘을 활용하여 검출 오류 또한 개선하는 기능을 수행할 수 있다.

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      목차 (Table of Contents)

      • 1. Abstract
      • 2. 연구 배경
      • 3. 연구 목적
      • 4. 연구 방법
      • 5. 결과
      • 1. Abstract
      • 2. 연구 배경
      • 3. 연구 목적
      • 4. 연구 방법
      • 5. 결과
      • 6. 향후 과제
      • 7. 참고문헌
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