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예시)

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저자

Overhauser, D. ; Lloyd, J. R. ; Rochel, S. ; Steele, G.
발행기관

Pergamon
학술지명
Microelectronics and reliability
권호사항

Vol.38 No.6-8 [1998]
발행연도
1998년
작성언어
eng
주제어

electron devices ; failure physics ; ESREF
Print ISSN
0026-2714
Online ISSN
1872-941X
등재정보
SCI;SCIE;SCOPUS
자료형태
학술저널
원정보자원
MICROELECTRONICS RELIABILITY
수록면
851-680 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
회의자료명
Reliability of electron devices, failure physics and analysis
회의명
European symposium; 9th
회의장소
Copenhagen
회의날짜
1998
소장기관
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