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2010년
eng
1938-5862
1938-6737
학술저널
ECS TRANSACTIONS
23-36 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
9781607681809 (pbk.); 9781566778305 (PDF)
High purity silicon
Symposium; 11th
Las Vegas, NV
2010; Oct
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(Invited) Nano Characterization of Materials
(Invited) Germanium on Sapphire Technology
The Impact of Helium Co-Implantation on Hydrogen Induced Donor Profiles in Float Zone Silicon