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1993년
eng
2166-2746
2166-2754
SCIE
학술저널
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY B MICROELECTRONICS PROCESSING AND PHENOMENA
115 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Critical passivation ledge thickness in AlGaAs/GaAs heterojunction bipolar transistors
Sulfide passivation of III-V semiconductors: Kinetics of the photoelectrochemical reaction