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      유기물 광전소자 제작을 위한 박스 캐소드 스퍼터 기술 = Box Cathode Sputtering Technologies for Organic-based Optoelectronics

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      https://www.riss.kr/link?id=A101055784

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      We report on plasma damage free-sputtering technologies for organic light emitting diodes (OLEDs), organic thin film transistor (OTFT) and flexible displays by using a box cathode sputtering (BCS) method. Specially designed BCS system has two facing t...

      We report on plasma damage free-sputtering technologies for organic light emitting diodes (OLEDs), organic thin film transistor (OTFT) and flexible displays by using a box cathode sputtering (BCS) method. Specially designed BCS system has two facing targets generating high magnetic fields ideally entering and leaving the targets, perpendicularly. This target geometry allows the formation of high-density plasma between targets and enables us to realize plasma damage free sputtering on organic layer without protection layer against plasma. The OLED with Al cathode prepared by BCS shows electrical and optical characteristics comparable to OLED with thermally evaporated Mg-Ag cathode. It was found that OLED with Al cathode layer prepared by BCS has much lower leakage current density ($1{\times}10^{-5}\;mA/cm^2$ at -6 V) than that $(1{\times}10^{-2}{\sim}-10^0\;mA/cm^2)$ of OLED prepared by conventional DC sputtering system. This indicates that BCS technique is a promising electrode deposition method for substituting conventional thermal evaporation and DC/RF sputtering in fabrication process of organic based optoelectronics.

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      참고문헌 (Reference)

      1 "Plasma damage free sputtering of indium tin oxide cathode layers for top emitting organic light emtting diodes" 86 : 183503-, 2005.

      2 "Plasma damage free deposition of Al cathode on organic light emitting devices by using mirror shape target sputtering" 85 : 4295-, 2004.

      3 "Ion beam induced surface damages on Alq3" 75 : 1619-, 1999.

      4 "Ion beam induced surface damages on Alq3" 75 : 1619-, 1999.

      5 "High-efficiency semi- transparent stacked organic light-emitting device" 73 : 2399-, 1998.

      6 "High transparent organic light emitting devices" 76 : 2128-, 2000.

      7 "Enhanced electron injection in organic electroluminescence devices using an Al/LiF electrode" 70 : 152-, 1997.

      8 "Effect of Al and Ca on luminescence of organic materials" 15 : 1745-, 1997.

      9 "Characteristics of indium zinc oxide cathode layer grown by box cathode sputtering for top emitting organic light emitting diodes" 153 : 29-, 2006.

      10 "A metal free cathode for organic semiconductor devices" 72 : 2138-, 1998.

      1 "Plasma damage free sputtering of indium tin oxide cathode layers for top emitting organic light emtting diodes" 86 : 183503-, 2005.

      2 "Plasma damage free deposition of Al cathode on organic light emitting devices by using mirror shape target sputtering" 85 : 4295-, 2004.

      3 "Ion beam induced surface damages on Alq3" 75 : 1619-, 1999.

      4 "Ion beam induced surface damages on Alq3" 75 : 1619-, 1999.

      5 "High-efficiency semi- transparent stacked organic light-emitting device" 73 : 2399-, 1998.

      6 "High transparent organic light emitting devices" 76 : 2128-, 2000.

      7 "Enhanced electron injection in organic electroluminescence devices using an Al/LiF electrode" 70 : 152-, 1997.

      8 "Effect of Al and Ca on luminescence of organic materials" 15 : 1745-, 1997.

      9 "Characteristics of indium zinc oxide cathode layer grown by box cathode sputtering for top emitting organic light emitting diodes" 153 : 29-, 2006.

      10 "A metal free cathode for organic semiconductor devices" 72 : 2138-, 1998.

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      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (재인증) KCI등재
      2017-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2013-01-01 평가 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2006-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-05-30 학회명변경 영문명 : 미등록 -> The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2001-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      1998-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      2016 0.13 0.13 0.13
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      0.14 0.14 0.247 0.06
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