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Isotropic etch for SiO2 microcantilever release with ICP system
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Microstructure of eutectic 80Au/20Sn solder joint in laser diode package
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Controlling warpage of molded package for inkjet manufacturing
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The interface states analysis of the MIS structure as a function of frequency
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The effect of Si addition and Ta diffusion barrier on growth and thermal stability of NiSi nanolayer
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