http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O54674491
2010년
eng
1530-4388
1558-2574
SCIE;SCOPUS
학술저널
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
396-402 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0
상세조회0
다운로드
Changes to Editorial Policy: Page Limits and T-DMR Letters
DC and RF Degradation Induced by High RF Power Stresses in 0.18-μm nMOSFETs
Ball Grid Array Solder Joint Reliability Under System-Level Compressive Load