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이 학술지의 논문 검색
Determination and application of the atomic geometries of solid surfaces
C.B. Duke Elsevier Science Publishers BV 1982 p.1-19
P.M. Marcus ; F. Jona Elsevier Science Publishers BV 1982 p.20-41
Extended absorption fine structure analysis of surface structure
Theodore L. Einstein Elsevier Science Publishers BV 1982 p.42-63
Applications of Rutherford ion backscattering to surface crystallography
W.N. Unertl Elsevier Science Publishers BV 1982 p.64-89
Determination of anodic oxide film thickness by a luminescence method
Lj.D. Zeković ; V.V. Urošević ; B. Jovanić Elsevier Science Publishers BV 1982 p.90-99
Interaction electron-matière: Application à la mesure de l'épaisseur d'une lame mince solide
Claude Landron Elsevier Science Publishers BV 1982 p.100-108
Determination of surface roughness from X-ray diffraction measurements on thin films
W. Fischer ; P. Wissmann Elsevier Science Publishers BV 1982 p.109-117
ESCA signal intensity dependence on surface area (roughness)
O.K.T. Wu ; G.G. Peterson ; W.J. LaRocca ; E.M. Butler Elsevier Science Publishers BV 1982 p.118-130
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