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Synthesis and characterization of TiO2/Ag
Park, J. T.; Koh, J. H.; Seo, J. A.; Cho, Y. S.; Kim, J. H. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8301-8306
Influence of inserting AlN between AlSiON and 4H-SiC interface for the MIS structure
Komatsu, N.; Satoh, T.; Honjo, M.; Futatuki, T.; Masumoto, K.; Kimura, C.; Aoki, H. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8307-8310
Mosavat, S. H.; Bahrololoom, M. E.; Shariat, M. H. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8311-8316
Mahmoudian, M. R.; Basirun, W. J.; Alias, Y.; Ebadi, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8317-8325
Effect of structure variation on thermal conductivity of hydrogenated silicon film
Li, S.; Jiang, Y.; Wu, Z.; Wu, J.; Ying, Z.; Wang, Z.; Li, W.; Salamo, G. J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8326-8329
Optical properties of p-type CuAlO2 thin film grown by rf magnetron sputtering
Fang, M.; He, H.; Lu, B.; Zhang, W.; Zhao, B.; Ye, Z.; Huang, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8330-8333
Vimalkumar, T. V.; Poornima, N.; Jinesh, K. B.; Kartha, C. S.; Vijayakumar, K. P. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8334-8340
Amin, J. S.; ; Ghatee, M. H.; Ayatollahi, S.; Alamdari, A.; Sedghamiz, T. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8341-8349
Wang, D.; Yang, Z.; Li, F.; He, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8350-8354
Yellow phosphors coated with TiO2 for the enhancement of photoluminescence and thermal stability
Lee, H. S.; Yoo, J. W. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 p.8355-8359
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