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Strain relaxation in GaAs islands on GaP(001)
Yago, H. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.119
Aqueous degradation of Bi-2212 single crystals: an AFM study of surface alteration
Holt, S. A. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.125
Pretreatment of silicon substrates for CVD diamond deposition studied by atomic force microscopy
Friedbacher, G. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.133
A study of surface modification of silica using XPS, DRIFT and NMR
Garbassi, F. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.145
Cocke, D. L. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.153
Gregoire, C. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.163
An X-ray scattering study of SiO~x/Si/Ge(001)
Kosowsky, S. D. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.179
Ballutaud, D. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.187
AES and XPS study of thin RF-sputtered Ta~2O~5 layers
Atanassova, E. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.193
Ray, N. ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1995 p.203
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