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Low energy ion beam-induced modification of InSb surface studied at nanometric scale
Krok, F.; Kolodziej, J. J.; Such, B.; Piatkowski, P.; Szymonski, M.; Odendaal, R. Q.; Malherbe, B. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.221-226
Miczek, M.; Adamowicz, B.; Hasegawa, H. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.227-234
Ultra-low frequency spectra for Li^+ ion thermoemission noise
Gladyszewski, L. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.235-240
Jakubczyk, E.; Jakubczyk, M. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.241-246
Ordering of the vicinal Si(15 1 0) surface at low Au coverage
Mazurek, P.; Jalochowski, M. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.247-252
Mitura, Z. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.253-258
Growth of the optical layers in a stochastic simulation. Study of a film morphology
Oleszkiewicz, W.; Romiszowski, P. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.259-266
Influence of Ar and He implantation on surface morphology of polymers
Piatkowska, A.; Jagielski, J.; Turos, A.; Slusarski, L.; Bielinski, D. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.267-274
Targosz, M.; Czuba, P.; Szymonski, M. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.275-282
H~3^+-synthesis on the surface of d-transition metals during the process of field desorption
Tomaszewska, A.; Stepien, Z. M. SPIE - THE INT SOC FOR OPTICAL ENGINEERING 2002 p.283-290
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