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예시)

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ⅰ ⅱ ⅲ ⅳ ⅴ ⅵ ⅶ ⅷ ⅸ ⅹ Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ Ⅵ Ⅶ Ⅷ Ⅸ Ⅹ

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저자

Obein, Michael
발행기관

ASM INTERNATIONAL
학술지명
Electronic Device Failure Analysis
권호사항

Vol.20 No.4 [2018]
발행연도
2018년
작성언어
eng
Print ISSN
1537-0755
등재정보
SCOPUS
자료형태
학술저널
원정보자원
Electronic device failure analysis
수록면
30-36 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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