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Charge exchange for medium energy He and Ne ions in a large-angle collision at solid surfaces
YoshiakiKido, SyoheiSemba,YasushiHoshino 한국물리학회 2003 p.3-7
High-resolution depth profiling of ultrashallow boron implants in silicon using high-resolution RBS
KenjiKimura, YukitoshiOota,KaoruNakajima,TemelH.B?y?klimanli 한국물리학회 2003 p.9-11
RyutaroSouda 한국물리학회 2003 p.13-17
Structural studies at metallic surfaces and interfaces using MEIS
D.P.Woodru?, M.A.Mu?oz-M?rquez,R.E.Tanner 한국물리학회 2003 p.19-24
Reactive ion scattering study of physisorbed adsorbates: experiment and theory
R.J.W.E.Lahaye, 강헌 한국물리학회 2003 p.25-29
Ion-induced emission microscopies
B.L.Doyle, D.S.Walsh,G.Vizkelethy,P.Rossi,F.D.McDaniel,T.Schenkel,J.McDonald,A.V.Hamza 한국물리학회 2003 p.31-34
The role of basic energy-loss processes in layer-resolved surface investigations with ions
G.Schiwietz, P.L.Grande 한국물리학회 2003 p.35-37
Ion beam as a probe to study the behavior of hydrogen on silicon surfaces
KenjiroOura, MitsuhiroKatayama 한국물리학회 2003 p.39-44
D.W.Moon, H.I.Lee 한국물리학회 2003 p.45-49
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