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2001년
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1369-8001
1873-4081
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING
85-88 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Electrical defect study in thin-film SiGe/Si solar cells
A new high sensitive method for determining weak microinhomogeneities in semiconductors