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예시)

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ⅰ ⅱ ⅲ ⅳ ⅴ ⅵ ⅶ ⅷ ⅸ ⅹ Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ Ⅵ Ⅶ Ⅷ Ⅸ Ⅹ

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저자

Qian, Jin
발행기관

SPIE
학술지명
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering
권호사항

Vol.12457 No.- [2023]
발행연도
2023년
작성언어
-
Print ISSN
0277-786X
Online ISSN
1996-756X
자료형태
학술저널
원정보자원
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering
수록면
124570E-124570E [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
국제 표준도서번호
9781510660199
회의자료명
Second International Conference on Testing Technology and Automation Engineering (TTAE 2022)
회의장소
Changchun, China
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