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Swain, Sarojini, Sharma, Ram Avatar,Patil, Sandip,Bhattacharya, Subhendu,Gadiyaram, Srinivasa Pavan,Chaudhari, Lokesh The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2012 p.267-272
Sarojini Swain, Ram Avatar Sharma,Sandip Patil,Subhendu Bhattacharya,Srinivasa Pavan Gadiyaram,Lokesh Chaudhari 한국전기전자재료학회 2012 p.267-272
Process Modeling and Optimization Studies in Drying of Current Transformers
Bhattacharya, Subhendu, D'Melo, Dawid,Chaudhari, Lokesh,Sharma, Ram Avatar,Swain, Sarojini The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2012 p.273-277
Process Modeling and Optimization Studies in Drying of Current Transformers
Subhendu Bhattacharya, Dawid DMelo,Lokesh Chaudhari,Ram Avatar Sharma,Sarojini Swain 한국전기전자재료학회 2012 p.273-277
A Vector Instruction-based RISC Architecture for a Photovoltaic System Monitoring Camera
Choi, Youngho, Ahn, Hyungkeun The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2012 p.278-282
A Vector Instruction-based RISC Architecture for a Photovoltaic System Monitoring Camera
Youngho Choi, 안형근 한국전기전자재료학회 2012 p.278-282
Yoon, Jung Rag, Lee, Chang-Bae,Lee, Serk Won,Lee, Heun-Young The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2012 p.283-286
Jung Rag Yoon, Chang-Bae Lee,이석원,이헌용 한국전기전자재료학회 2012 p.283-286
The Dry Etching Properties of TaN Thin Film Using Inductively Coupled Plasma
Woo, Jong-Chang, Joo, Young-Hee,Kim, Chang-Il The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2012 p.287-291
The Dry Etching Properties of TaN Thin Film Using Inductively Coupled Plasma
우종창, 김창일,Young-Hee Joo 한국전기전자재료학회 2012 p.287-291
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.