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A Study on the Electrical Characteristics of Ultra Thin Gate Oxide
Gum-Yong Eom 한국전기전자재료학회 2004 p.139-172
A Study on the Electrical Characteristics of Ultra Thin Gate Oxide
Eom, Gum-Yong The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.169-172
Kim, Keun-Joo The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.173-179
The Methodology of Systematic Global Calibration for Process Simulator
Lee, Jun-Ha, Lee, Hoong-Joo The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.180-184
The Methodology of Systematic Global Calibration for Process Simulator
이준하, 이흥주 한국전기전자재료학회 2004 p.180-184
The Phase Transition with Electric Field in Ternary Chalcogenide Thin Films
Yang, Sung-Jun, Lee, Jae-Min,Shin, Kyung,Chung, Hong-Bay The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.185-188
The Phase Transition with Electric Field in Ternary Chalcogenide Thin Films
Sung-Jun Yang, 정홍배,Jae-Min Lee,Kyung Shin 한국전기전자재료학회 2004 p.185-188
The Doping and Plasma Effects on Gas Sensing Properties of α-Fe2O3 Thin Film
Choi, J.Y., Jang, G.E. The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers 2004 p.189-193
The Doping and Plasma Effects on Gas Sensing Properties ofα-Fe2O3 Thin Film
J. Y. Choi, G. E. Jang 한국전기전자재료학회 2004 p.189-193
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
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