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https://www.riss.kr/link?id=O37194087
1999년
eng
1085-7735
학술저널
PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM
227-232 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0769503152; 0769503179
Asian test symposium
8th
Shanghai; China
1999; Nov
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Automatic Test Pattern Generation for Improving the Fault Coverage of Microprocessors
On Compact Test Sets for Multiple Stuck-At Faults for Large Circuits
Identification of Feedback Bridging Faults with Oscillation