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      도광판의 자동결함검출을 위한 템플릿 검사와 블록 매칭 방법 = Template Check and Block Matching Method for Automatic Defects Detection of the Back Light Unit

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      https://www.riss.kr/link?id=A103972051

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      In this paper, two methods based on the use of morphology and pattern matching prior to detect classified defects automatically on the back light unit which is a part of display equipments are proposed. One is the template check method which detects s...

      In this paper, two methods based on the use of morphology and pattern matching prior to detect classified defects automatically on the back light unit which is a part of display equipments are proposed. One is the template check method which detects small size defects by using closing and opening method, and the other is the block matching method which detects big size defects by comparing with four regions of uniform blocks. The TC algorithm also can detect defects on the non-uniform pattern of BLU by using revised Otsu method. The proposed method has been implemented on the automatic defect detection system we developed and has been tested image data of BLU captured by the system.

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      국문 초록 (Abstract)

      본 논문에서는 자동결함검출 방법으로 도광판의 다양한 패턴에 나타나는 돌출, 함몰, 점 등과 같은 작은 결함들을 검출하기 위해 모폴로지의 닫힘, 열림 방법을 이용하는 템플레이트 검사 ...

      본 논문에서는 자동결함검출 방법으로 도광판의 다양한 패턴에 나타나는 돌출, 함몰, 점 등과 같은 작은 결함들을 검출하기 위해 모폴로지의 닫힘, 열림 방법을 이용하는 템플레이트 검사 방법을 사용하였고, 얼룩, 스크래치와 같은 큰 결함을 검출하기 위해 영상에서 격자와 같은 일정한 블록을 형성하여 각 블록을 비교하여 결함을 찾는 블록매칭 방법을 사용하였다. 또한 일정한 패턴이 없는 도광판의 결함에 대해 결함을 검출할 수 있는 개선된 오쯔 방법을 이용하였다. 이 알고리즘을 적용한 결과 결함 검출에 좋은 성능이 있음을 보여준다. 제안된 알고리즘은 자체 개발한 장비에서 실제 도광판의 영상을 얻어 테스트 하였다.

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      참고문헌 (Reference)

      1 "디스플레이 산업의 현재와 미래" July.2005

      2 C.Oh, "Video Tape Recorder Head inspection using Image Processing Techniques" 38 (38): 124-130, Jan.1999.

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      8 Hui-Fuang Ng, "Automatic Thresholding for Defect Detection" 2004

      9 W. Niblack, "An Introduction to Image Processing" Prentice- Hall 1986

      10 J. R. Parker, "Algorithms for Image Processing and Computer Vision" John Wiley&Sons 1997.

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      4 "Otsu N. A threshold selection method from graylevel histograms." 62-66, 1979

      5 Matrox Electronic System Ltd, "Matrox Imaging Library" February,1999.

      6 R.C. Gonzalez, "Digital Image Processing" Prentice Hall 2002.

      7 Y.Ryu, "Development of a non-contact optical sensor for a measuring the shape of a surface and thickness of transparent objects" 40 (40): 500-502, Apr.2001.

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      11 T.S. Newman, "A survey of automated visual inspection" 61 (61): 231-262, 1995

      12 P.S. Liao, "A fast algorithm for multilevel thresholding" 17 : 713-727, 2001.

      13 Jee Hong Kim, "A Detection Method of Non-uniform Brightness Defects in LCD Based on Human Vision" 5 : 9-16, 2004

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      2018-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2015-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2012-10-31 학술지명변경 한글명 : 소프트웨어 및 데이터 공학 -> 정보처리학회논문지. 소프트웨어 및 데이터 공학 KCI등재
      2012-10-10 학술지명변경 한글명 : 정보처리학회논문지B -> 소프트웨어 및 데이터 공학
      외국어명 : The KIPS Transactions : Part B -> KIPS Transactions on Software and Data Engineering
      KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2006-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2003-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2002-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
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      2016 0.35 0.35 0.28
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.23 0.19 0.511 0.06
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